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This section reviews my patent
applications during my professional career.
Europe
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Speicherbaustein mit temperaturabhängiger Verzögerungsschaltung im Datenpfad
F. Fischer, M. Proell,
J. Kliewer and F. Ertl
German Patent No. DE102008056385
[patent issued]
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Halbleiter-Bauelement und Verfahren zum Testen von Halbleiter-Bauelementen
M. Versen, J. Kliewer, S. Hoch and F.
Ertl
German Patent No. DE102008004456
[patent issued]
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Verfahren und System zum Testen einer integrierten Schaltung sowie
integrierte Schaltung
U. Hartmann, H. Benzinger, M. Proell,
J. Kliewer and F. Ertl
German Patent No. DE102007031492
[patent issued]
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Integrierter Halbleiterspeicher mit Testfunktion und Verfahren zum Testen
eines integrierten Halbleiterspeichers
M. Proell, J. Ocon, F. Ertl and S.
Schroeder
German Patent No. DE102006019507
[patent issued]
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Verfahren zur Bestimmung der relativen Feuchte und Sensorsystem zur
Bestimmung einer relativen Feuchte
F. Ertl and D. Koenig
German Patent No. DE102016218300
[patent issued]
UNITED STATES
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Integrated Semiconductor Memory with a Test Function and Method for Testing
an Integrated Semiconductor Memory
M. Proell, J. Ocon, F. Ertl and S. Schroeder
US Patent No. US2007253264
[patent issued]
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